粒度分布測定装置

粒度分布測定装置の主な用途

  • 粒度分布の測定および解析
  • レーザー回折・散乱法による粒度分布測定
  • バッチ、製剤、または工程条件の比較
  • 粒度分布内のシフトまたは複数の粒子群の検出
  • 医薬品およびバイオ医薬品の粒度分布解析
  • 品質管理および製剤開発

粒度分布測定装置は、医薬品、バイオテクノロジー、化学、食品・飲料、化粧品、材料科学、および工業分野で、粒子径と粒度分布を測定するために使用される分析装置です。正確な粒度分布解析により、研究者や品質管理担当者は、バッチの一貫性、製剤の安定性、および製造工程の効率を評価できます。

当社の粒度分布測定装置のポートフォリオには、偏光散乱強度差（PIDS：Polarized Intensity Differential Scattering）技術を用いたレーザー回折・散乱法と、コールター原理に基づく電気的検知帯法が含まれます。これらの手法は、さまざまな液体懸濁液、エマルジョン、および乾燥粉末を対象とした粒度分布測定、粒子数計数、および測定法の選択に対応します。

 

粒度分布測定装置に関するよくあるご質問

粒度分布測定装置とは何ですか？

粒度分布測定装置は、サンプル中の粒子の大きさと分布を測定する装置です。測定原理に応じて、個数基準または体積基準の粒度分布を表示し、粒子数や濃度データも提供する場合があります。表示される粒子径は、必ずしも不規則形状の粒子のすべての寸法を表すものではなく、測定法によって定義された相当径です。粒度分布測定装置は、医薬品、バイオテクノロジー、化学、食品、化粧品、および材料科学のラボで、製品開発、品質管理、および工程最適化を支援するために広く使用されています。

レーザー回折・散乱法粒度分布解析とは何ですか？

レーザー回折・散乱法では、粒子群によって散乱される光の角度パターンと強度を測定します。大きな粒子は小さい角度に散乱光が集中し、小さな粒子は広い角度の散乱光に占める割合が相対的に高くなります。ソフトウエアは測定した散乱パターンに光学モデルを適用し、体積基準の粒度分布を算出します。光学モデルや、該当する場合は屈折率情報などの測定法への入力条件が、出力結果に影響することがあります。 レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置 LS 13 320 XRは、レーザー回折・散乱測定とPIDS測定を組み合わせ、サブミクロン領域まで直接測定範囲を拡張します。

粒子径はどのように測定しますか？

粒子径は、さまざまな物理原理を用いて測定できます。レーザー回折・散乱法では、粒子群が散乱する光のパターンから粒度分布を求めます。コールター原理では、電解液中に懸濁した個々の粒子がアパチャーを通過する際の電気抵抗の変化を検出し、粒子の計数と粒径測定を行います。適切な測定法は、想定される粒径範囲、サンプル形態、必要な分布基準、粒子濃度、および分析目的によって異なります。

粒度分布とは何ですか？

粒度分布は、ある粒径範囲に存在する粒子の相対量を表します。測定技術と計算法に応じて、個数、体積、質量、またはその他の基準で表すことができます。

レーザー回折・散乱法とコールター原理の違いは何ですか？

レーザー回折・散乱法では、粒子群全体の光散乱パターンを測定し、通常は体積基準の粒度分布を表示します。コールター原理では、電解液中のアパチャーを通過する粒子を1個ずつ測定し、個数基準の粒子径および粒子数データを取得します。レーザー回折・散乱法は、広い粒度分布や湿式および乾式測定によって選択されることが多く、コールター原理は、個々の粒子数、濃度、または個数基準の分布が必要な場合に有用です。最終的な測定法の選択は、サンプル、粒径範囲、分散条件、および必要な出力によって異なります。